Siirry sisältöön
Public data is available without account registration. Please register if you require access to private research findings.
Kirjaudu sisään
Rekisteröidy
NOTICE:
This site works best in Chrome, Safari, and Firefox. Versions of Internet Explorer may not work correctly.
Aloitussivu
Projects
Data
Tietoja
Help
Aloitussivu
Tietoaineistot
Lajittelu
Relevanssi
Nimen mukaan nousevasti
Nimen mukaan laskevasti
Viimeksi muokattu
Siirry
Muodot:
JPEG
Data Source Type:
Lab Experimental
Measurement Types:
Other
Suodata tuloksia
fig2b
5 Resources
Photoconductive atomic force microscopy (PC-AFM) measurements were conducted on Si/GaN samples. PeakForce TUNA mode was used to acquire the morphology and current...
XLSX
JSON
JPEG
Voit käyttää rekisteriä myös
API
avulla (katso myös
API-dokumentaatio
).
} }
