Data Source Type: Lab Experimental Institution: Lawrence Berkeley National Laboratory Measurement Types: Other

Suodata tuloksia

  • fig2b

    5 Resources
    Photoconductive atomic force microscopy (PC-AFM) measurements were conducted on Si/GaN samples. PeakForce TUNA mode was used to acquire the morphology and current...
Voit käyttää rekisteriä myös API avulla (katso myös API-dokumentaatio).