Pāriet uz saturu
Public data is available without account registration. Please register if you require access to private research findings.
Pieslēgties
Reģistrēties
NOTICE:
This site works best in Chrome, Safari, and Firefox. Versions of Internet Explorer may not work correctly.
Sākumlapa
Projects
Dati
Par
Help
Sākumlapa
Datu kopas
Kārtot pēc
Būtiskums
Nosaukums augošā secībā
Nosaukums dilstošā secībā
Pēdējo reizi mainīts
Iet
Measurement Types:
Other
Filtra rezultāts
fig2b
5 Resources
Photoconductive atomic force microscopy (PC-AFM) measurements were conducted on Si/GaN samples. PeakForce TUNA mode was used to acquire the morphology and current...
XLSX
JSON
JPEG
Jūs varat piekļūt šim reģistram izmantojot šo saiti
API
(skatīt
API Docs
).
} }
