Preskočiť na obsah
Public data is available without account registration. Please register if you require access to private research findings.
Prihlásiť sa
Zaregistrovať sa
NOTICE:
This site works best in Chrome, Safari, and Firefox. Versions of Internet Explorer may not work correctly.
Domov
Projects
Data
O projekte
Help
Domov
Datasety
Zoradiť podľa
Relevantnosť
Meno vzostupne
Meno zostupne
Naposledy zmenené
Ísť
Formáty:
JPEG
Measurement Types:
Other
Výsledky filtrovania
fig2b
5 Resources
Photoconductive atomic force microscopy (PC-AFM) measurements were conducted on Si/GaN samples. PeakForce TUNA mode was used to acquire the morphology and current...
XLSX
JSON
JPEG
Prístup do tohto zoznamu je možný aj cez API rozhranie
API
(viď. dokumentácia API
Dokumenty API
).
} }