Пређите на садржај
Public data is available without account registration. Please register if you require access to private research findings.
Пријавите се
Региструјте се
NOTICE:
This site works best in Chrome, Safari, and Firefox. Versions of Internet Explorer may not work correctly.
Почетак
Projects
Подаци
О сервису
Help
Почетак
Скупови података
Сортирај по
Релевантност
Назив Растући
Назив Опадајући
Последња промена
Напред
Формати:
JSON
Data Source Type:
Lab Experimental
Measurement Types:
Other
Филтрирај Резултате
fig2b
5 Resources
Photoconductive atomic force microscopy (PC-AFM) measurements were conducted on Si/GaN samples. PeakForce TUNA mode was used to acquire the morphology and current...
XLSX
JSON
JPEG
You can also access this registry using the
API
(see
Докуменатација API-ја
).
} }